近期，我們接待了一位來自微電子封裝行業(yè)的客戶，他們需要全面評估COB元器件諸如芯片粘貼強度、金線鍵合強度和金球焊接質(zhì)量等。針對這個需求，本文科準(zhǔn)測控小編就和大家分享一下，如何使用推拉力測試機來進(jìn)行COB元器件質(zhì)量檢測，同時詳細(xì)講解測試參數(shù)設(shè)置和數(shù)據(jù)分析方法，為有同樣需求的朋友提供參考。
圖片源自網(wǎng)絡(luò)
一、測試原理
推力測試原理：將推刀以設(shè)定剪切高度對準(zhǔn)芯片/金球側(cè)面，以恒定速度水平推進(jìn)，直至芯片/金球從基板上脫落或失效，系統(tǒng)記錄最大推力值，評估芯片粘貼/金球焊接強度。
拉力測試原理：將金線鉤針置于金線下方，以恒定速度向上拉起，直至金線斷裂或鍵合點失效，系統(tǒng)記錄最大拉力值，評估金線鍵合強度。
二、測試標(biāo)準(zhǔn)
- MIL-STD-883 微電子器件測試方法標(biāo)準(zhǔn)
- GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序
- JESD22-B117A 焊球剪切測試標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM F1269 金線鍵合強度測試方法
- IPC-TM-650 印制板組件測試方法
三、測試設(shè)備
Alpha W260推拉力測試機
四、測試流程
步驟一：設(shè)備與試樣準(zhǔn)備
- 檢查推拉力測試機水平狀態(tài)及傳感器安裝情況
- 確認(rèn)各傳感器在校準(zhǔn)有效期內(nèi)
- 在顯微鏡下觀察COB元器件的芯片粘貼、金線鍵合及金球形貌，確認(rèn)無可見缺陷
- 調(diào)整顯微鏡焦距，確保清晰觀察測試區(qū)域
步驟二：參數(shù)設(shè)置
- 推芯片測試：傳感器DS200kg，量程50kg，破壞性模式
- 金線拉力測試：傳感器WP100，量程100g，破壞性模式
- 金球推力測試：傳感器BS250，量程250g，破壞性模式
步驟三：推芯片測試
- 將COB試樣固定于夾具中，調(diào)整推刀至芯片側(cè)面
- 設(shè)置合適的剪切高度，以恒定速度水平推進(jìn)
- 系統(tǒng)自動記錄最大推力值
- 重復(fù)測試
步驟四：金線拉力測試
- 將試樣固定于夾具中，調(diào)整鉤針至金線下方
- 以恒定速度向上拉起金線，直至斷裂或失效
- 系統(tǒng)自動記錄最大拉力值
- 重復(fù)測試
步驟五：金球推力測試
- 將試樣固定于夾具中，調(diào)整推刀至金球側(cè)面
- 設(shè)置合適的剪切高度，以恒定速度水平推進(jìn)
- 系統(tǒng)自動記錄最大推力值
- 重復(fù)測試
步驟六：數(shù)據(jù)與失效分析
- 測試結(jié)束后，系統(tǒng)自動顯示最大力值并保存測試數(shù)據(jù)
- 根據(jù)視頻回放和斷口形貌，觀察失效模式
- 整合數(shù)據(jù)、曲線和影像，導(dǎo)出完整測試報告
芯片推力測試結(jié)果
金線拉力測試結(jié)果
金球推力測試結(jié)果
以上就是科準(zhǔn)測控小編關(guān)于COB元器件推拉力測試的相關(guān)介紹了，希望對您有幫助。如您還有COB元器件推拉力測試、芯片剪切測試、金線拉力測試或推拉力測試機應(yīng)用等方面的疑問或需求，歡迎隨時通過私信或留言與科準(zhǔn)測控聯(lián)系。我們的技術(shù)團隊將為您提供專業(yè)的測試建議與定制化服務(wù)方案。
